| Nama Parameter | Nilai Parameter |
| Model | HY-ST 3002 |
| Diameter Wafer Pengisaran (mm) | Maks. 300 |
| Ketebalan Wafer Pengisaran Maksimum (mm) | Maks. 50 |
| Jenis Mesin Penipisan | Meja Kerja Putar Spindle Tunggal, Stesen Tunggal |
| Mod Operasi | Mod Pengisaran Separa Automatik (Pemuatan/Pemunggahan Manual) |
| Kaedah Pengisaran | Putaran Wafer, Pengisaran Dalam Suapan Paksi (dalam Suapan) |
| Kuasa Spindle Pengisaran (kW) | 11 (Gelendong Terapung Udara) 15 (Gelendong Mekanikal) |
| Jenis Spindle Pengisaran | Spindle Terapung Udara / Spindle Mekanikal |
| Kelajuan Spindle Pengisaran (rpm) | 500~3000 |
| Langkah Kawalan Minimum Kelajuan Spindle Pengisaran | 1 |
| Lejang Berkesan Paksi-Z (mm) | 100 (Dengan Fungsi Asal) |
| Kuasa Motor Suapan Spindle (kW) | 0.75 |
| Kadar Suapan Pengisaran Paksi-Z (μm/s) | 0.1~80 |
| Kelajuan Lintasan Pantas Paksi-Z (μm/s) | Maks. 5000 |
| Resolusi Gerakan Minimum paksi-Z (μm) | 0.1 |
| Diameter Roda Pengisaran Berlian (mm) | 300 |
| Fungsi Berpakaian | Pembalut Roda Automatik (Pilihan) |
| Resolusi Pengukuran Ketebalan (μm) | 0.1 |
| Pengukuran Ketebalan Kebolehulangan (μm) | 0.5 |
| Julat Pengukuran Ketebalan (μm) | 0~5000 (Julat lain tersedia atas keperluan wafer) |
| Kaedah Pengukuran Ketebalan | Pengukuran Sentuhan Pengukuran Tanpa Sentuhan NCG (Pilihan: Julat boleh dipilih mengikut keperluan wafer; hanya mengukur ketebalan wafer sebenar, tidak termasuk pengaruh lapisan proses seperti pelekat ikatan, lilin ikatan dan filem) |
| Jenis Meja Kerja Pengapit | Chuck Seramik Mikropori |
| Kaedah Pengapit Wafer | Penjerapan Vakum |
| Spesifikasi Cincin | 12 inci (Pilihan) |
| Struktur Pengangkat Cincin | Pilihan |
| Kelajuan Spindle Chuck Wafer (rpm) | 0~300 |
| Kaedah Pembersihan Chuck | Pembersihan Manual (Pembersihan Automatik Pilihan) |
| Tekanan Vakum Muktamad (kPa) | -88 |
| TTV (μm) | ≤3 (Diukur pada 5 mm ke dalam dari tepi wafer untuk wafer Si 12 inci, ukuran ketebalan 5 titik) ≤7 (Diukur pada 5 mm ke dalam dari tepi wafer untuk wafer SiC 12 inci, ukuran ketebalan 5 titik) |
| Variasi Ketebalan Wafer-ke-Wafer (μm) | ≤±3 (Untuk wafer Si 12 inci) |
| Kekasaran Permukaan Ra (μm) | ≤0.02 (Si: Grit roda pengisaran berlian 2000#) ≤0.3 (Nilam: Grit roda pengisaran berlian 500#) ≤0.003 (SiC: Grit roda pengisaran berlian 8000#) |
| Jumlah Kuasa Peralatan (kW) | 17/21 |
| Jumlah Berat Peralatan (kg) | Lebih kurang 2600 |
| Dimensi Keseluruhan (P×L×T mm) | 1520×1150×1930 mm |