Penyusun Ujian Akhir Cip Sensitif Cahaya Automatik Sepenuhnya

HY-CS800Pengisihialah Peralatan Pengisihan Ketepatan Tinggi Automatik Sepenuhnya untuk Peringkat Ujian Akhir (FT)

Jenama :
HYRNUS
Nombor Item :
HY-CS800
Pesanan (MOQ) :
1 Set
Waranti :
One-Year Warranty and Lifetime Maintenance
Pembayaran :
T/T
Masa Utama :
7-35 Days
Asal Produk :
China

PERTANYAAN SEKARANG

Penyusun Ujian Akhir Cip Sensitif Cahaya Automatik Sepenuhnya

Pengenalan Produk

HY-CS800 Penyusun Ujian Akhir Cip sesuai untukPembungkusan Cip Sensor Imej Meliputi semua kategori peranti sensor optik termasuk CIS, TOF, cip LiDAR dan sensor optik mini, peralatan ini mengintegrasikan ujian prestasi optik, pemeriksaan prestasi elektrik, penyaringan kecacatan rupa, pengisihan automatik dan pembungkusan produk siap ke dalam satu sistem. Ia mampu menyokong peranti dengan masa ujian yang panjang, seperti sensor imej dan cip TOF.

Keupayaan & Faedah Utama

Berpusat pada nilai teras "ketepatan tinggi, kecekapan tinggi, keserasian tinggi dan kehilangan rendah", ia memenuhi keperluan pengeluaran besar-besaran elektronik pengguna, elektronik automotif, komunikasi optik dan bidang lain. Ia menyokong UPH ≥ 9K untuk peranti dengan masa ujian ≤ 9s, di samping menampung sensor imej, cip TOF dan produk lain dengan masa ujian yang lebih lama. Ia membantu pelanggan mencapai kawalan kualiti dan penyisihan yang cekap dalam peringkat FT cip sensor imej, menghapuskan produk yang rosak, meningkatkan hasil penghantaran dan mengurangkan kos buruh dan pembuatan. Ia merupakan peralatan teras yang membolehkan proses pembungkusan dan pengujian bahagian belakang cip sensor imej.

Senario Aplikasi

Termasuk tetapi tidak terhad kepada oujian ptoelektronik untuk sensor imej, cip TOF dan peranti dengan masa ujian yang panjang. Sila hubungi kami untuk keperluan khas.

Spesifikasi Teknikal

Barang	Spesifikasi
Nama	Mesin Pengisihan Cip FT Sensor Imej
Pakej yang Disokong	QFN / LGA / SOP / QFP / SOT dan cip pakej lain
Format Input	Pukal, Tiub, Dulang, Pita & Kekili
Format Keluaran	Pita & Kekili
Julat Saiz Cip	1×0.5mm – 8×8mm
Peralatan UPH	≥ 9K (apabila masa ujian ≤ 9s)
Item Ujian Utama	Untuk cip sensor imej: PS, CT, ALS, dll. Boleh disesuaikan untuk cip lain berdasarkan keperluan sebenar
Stesen Ujian	Sehingga 64 tapak
Bilangan Penguji	1 unit
Ketepatan Kedudukan Penempatan	±25µm @ 3σ
Ketepatan Sudut Penempatan	±0.5° @ 3σ
Pemeriksaan Bahagian Atas/Bawah	Resolusi pengesanan >10µm; boleh dikesan dengan kontras >30. Jenis kecacatan: calar, kotoran, zarah asing, kesan terbakar, sudut sumbing, tepi sumbing, dsb.
Dimensi Peralatan	3100mm (P) × 1800mm (L) × 2000mm (T)