apa yang anda cari
?
Pengendali Semikonduktor HY-CS900 Peralatan Ujian dan Pengisihan Automatik untuk Automasi Proses.
Jenama :
HYRNUSNombor Item :
HY-CS900Pesanan (MOQ) :
1 SetWaranti :
One-Year Warranty and Lifetime MaintenancePembayaran :
T/TMasa Utama :
7-35 DaysAsal Produk :
ChinaMesin Ujian & Pengisihan KGD Automatik Untuk Automasi Proses
Pengenalan Produk
HY-CS900 Mesin Uji & Isihan Berpusat pada kekuatan teras keserasian suhu tinggi, penyaringan ketepatan, kecekapan pengeluaran volum tinggi dan kawalan kos, peralatan ini meliputi pemeriksaan kecacatan visual peringkat acuan, ujian prestasi elektrik dan pembungkusan produk siap. Ia membantu menghapuskan acuan kosong yang rosak sebelum pembungkusan, meningkatkan hasil selepas pembungkusan dan kecekapan penghantaran.
Keupayaan & Faedah Utama
Senario Aplikasi
Termasuk tetapi tidak terhad kepada ujian KGD (Die Baik Dikenali) bagi die SiC terdedah. Sila hubungi kami untuk keperluan khas.
Ciri-ciri Peralatan
Pengujian dan pengisihan aras acuan untuk cip kuasa; sesuai untuk SiC dan peranti berkuasa tinggi, kebolehpercayaan tinggi dan berprestasi tinggi yang lain.
Menyokong pencirian kebolehpercayaan: UIS sehingga 3 kV, SC sehingga 3000 A.
Menyokong ujian statik sehingga 3 kV / 600 A (voltan / arus).
Menyokong ujian dinamik sehingga 2 kV / 1500 A (voltan / arus).
Seni bina pengendali dan penguji yang inovatif untuk kecekapan yang lebih tinggi; UPH komprehensif sehingga 4K (bergantung pada keperluan pelanggan dan kandungan ujian).
Induktans sesat yang rendah dan rintangan sentuhan yang rendah memastikan isyarat yang bersih dan andal untuk ketepatan ujian yang lebih baik: - Induktans sesat gelung ujian: < 50 nH - Rintangan sentuhan acuan: < 10 mΩ
Persekitaran ujian dilindungi oleh atmosfera lengai berasaskan nitrogen (pada suhu bilik/tinggi) untuk mengelakkan arka. - Persekitaran ujian suhu tinggi: sehingga 175°C ± 2°CSpesifikasi Teknikal
| Barang | Spesifikasi |
| Nama | Mesin Ujian & Pengisihan KGD |
| Produk yang Disokong | Acuan kosong SiC |
| Format Input | Wafer (6/8/12 inci), Pita & Kekili, Dulang tersuai |
| Julat Saiz Cip | 2mm×2mm – 8mm×8mm |
| Ketebalan Cip | 80µm – 600µm |
| Masa Indeks | < 700ms (Selari dengan Ujian) |
| Induktans Sesat Gelung Ujian (Die Dwi) | < 50 nH |
| Rintangan Sentuh | < 10 mΩ |
| Pengujian Selari Berbilang Tapak | Disokong |
| Item Ujian Utama | Dinamik, Statik, UIS, SC, dll. |
| Persekitaran Ujian | Suhu Ambien / Tinggi |
| Julat Suhu | Ambien hingga 200°C |
| Kestabilan Suhu | ±2°C @ 3σ, Resolusi 0.1°C |
| Perlindungan Produk | Perlindungan atmosfera nitrogen |
| Ketepatan Kedudukan Penempatan | ±25µm @ 3σ |
| Ketepatan Sudut Penempatan | ±0.5° @ 3σ |
| Dimensi Peralatan | 3100mm (P) × 1400mm (L) × 1900mm (T) |
Butiran Produk
HY-BT12 Mesin Pita Biruialah mesin pita biru berkelajuan tinggi yang direka untuk memilih cip daripada wafer pita biru dengan tepat dan memuatkannya ke dalam pita pembawa untuk peranti IC dan LED.
HY-TT2401 Handlerialah pengendali bersepadu berprestasi tinggi yang menggabungkan ujian elektrik, pemeriksaan optik dan pembungkusan pita ke dalam satu sistem automatik, direka bentuk untuk pembungkusan semikonduktor dan aplikasi ujian.
Pengisih Ujian HY-TT1801 digunakan untuk merakam peranti diskret, IC, komponen DFN dan jambatan penerus.
Pengendali Semikonduktor HY-CS3025 didedikasikan untuk pemeriksaan kecacatan visual, ujian prestasi elektrik dan pembungkusan produk siap bagi kapasitor tantalum cip dan kapasitor aluminium berbilang lapisan.
Penyusun Cip HY-CS3021 ialah desidigunakan untuk pemeriksaan kecacatan visual, ujian prestasi elektrik dan pembungkusan produk siap bagi komponen aktif dan pasif mini.
HY-CS800Pengisihialah Peralatan Pengisihan Ketepatan Tinggi Automatik Sepenuhnya untuk Peringkat Ujian Akhir (FT)
Mesin Pengisihan Cip HY-WS600 mengintegrasikan pemeriksaan peringkat wafer, pengisihan ketepatan tinggi, pemuatan/pemunggahan automatik dan kebolehkesanan data dalam satu sistem.
tinggalkan mesej
Imbas ke Wechat :
Imbas ke WhatsApp :
